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原作者:[标签:作者] 添加时间:2007-06-29 原文发表时间:2007-06-30 人气:1

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包装厚度小于或等于2.0mm:对于2a-5a 级别,125°C的烘焙时间范围23-48小时,或150°C烘焙11-24小时。

包装厚度小于或等于4.0mm:对于2a-5a 级别,125°C的烘焙时间范围48小时,或150°C烘焙24小时。

IPC的车间寿命过期之后的后烘焙推荐是:

包装厚度小于或等于1.4mm:对于2a ~5a 级别,125°C的烘焙时间范围4~14小时,或40°C烘焙5~9天。

包装厚度小于或等于2.0mm:对于2a ~5a 级别,125°C的烘焙时间范围18~48小时,或40°C烘焙21~68天.

包装厚度小于或等于4.0mm:对于2a ~5a 级别,125°C的烘焙时间范围48小时,或40°C烘焙67或68天。

元件干燥使用常温干燥箱去湿或烘焙两种方法之一。

烘焙去湿

烘焙比比较复杂。基于潮湿敏感水平级别不同和包装厚度的不同,有一些干燥包装前的预焙的推荐方法。但指出烘焙温度可能造成引脚氧化或引起过多的金属间增生(intermetallic growth)从而降低引脚的可焊接性。并不要将元件存储在烘焙温度下的炉子内。

常温干燥箱去湿:

对于潮湿敏感水平为2-4级的防湿包装拆开后的SMD,如暴露在小于或等于30°C/60% RH环境下,将其放入湿度为10%RH的常温干燥箱中,经过暴露时间 X 5倍的除湿保管时间,可以恢复原来的车间寿命。

对于潮湿敏感水平为5-5a级的防湿包装拆开后的SMD,如暴露在小于或等于30°C/60% RH环境下,将其放入湿度为10%RH的常温干燥箱中,经过暴露时间 X 10倍的除湿保管时间,可以恢复原来的车间寿命

(3),IPC-9503 非IC元件的潮湿敏感性分类

该文件的作用是帮助制造厂商确定非IC元件的电子元器件对潮湿的敏感性和防护要求。

三,结论

IPC-M-109为电子制造厂商潮湿对电子元器件的危害问题提供了标准和方法,只要认真贯彻执行,可将有效地将潮湿对电子元器件的危害降到最低程度。


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