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光纤熔接机(2)
原作者:[标签:作者] 添加时间:2007-06-30 原文发表:2007-06-30 人气:2
本文章共2661字，分2页，当前第2页，快速翻页：
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应用实例：10G激光发射器的色散罚值
当前常用的色散罚值的测量方法都需要耗费大量时间，且工序非常繁琐。现在我们举的例子是如何测量发射器色散罚值（TDP），这是一个描述IEEE 802.3ae 10GbE标准激光发射器的性能参数，该参数可以无须经过繁琐漫长的比特误码率测量（BER）就可被确定。正常情况下如果要对TDP进行直接测量只需两次BER测试，一次需要在一个参考接收器配置色散通道，一次不需要，这当中BER值的输入范围从10-4到10-11。
在这里的色散罚值计算（DPC）采用的是86146B DPC，一种高性能的光谱分析仪，同时结合了86100B Infiniium数字通讯分析仪宽带示波器。这些分析仪可以测量发射器的时间分辨啁啾（TRC），将振幅和啁啾数据一起输入色散罚值计算模块中。
图2：比特模式（绿色）以及啁啾（蓝色，左）和alpha因子（右）
在这个例子里，一个10Gb/s电吸收调制独立激光器模块可以工作在一个基准点，提供一个正α因子（1.38 rad）。图2a显示了10G调制信号的比特模式和啁啾情况。时间/功率与α因子相关，可以由时间啁啾数据导出： α因子描绘的是瞬时啁啾，K1因子反映了啁啾隔热要素。图2b显示了一个电吸收调制器的标准α因子参数，在这里α因子随着电压的增大而减少，两者呈反比关系。
在上述工作环境中，一个低于2dB的色散罚值对于一条色散窗口为350 ps/nm的局部色散补偿链路来说可以接受的，应用实例：一个光纤布拉格色散补偿模块的系统退化
我们举的第二个例子演示了如何利用VPI系统公司的TransmissionMaker系统性能模拟软件以及安捷伦的81910A全光参数分析仪来研究系统因元件参数改变所带来的影响。获得的信息将有助于优化元件的设计，实现其市场推广的目标。安捷伦的81910A可以测量所有的光元件参数，如插入损耗，PDL, GD，DGD，CD以及PMD等。
在这个例子里，评估的是一个光纤布拉格光栅（FBG）色散补偿模块（DCM）的系统性能。一个40Gb/s发射器的输出受到FBG-DCM的预先补偿，接着在通过一个长度可调的S-SMF。通过利用EOP来计算评估系统性能，用无噪音放大器来将发射和接受信号功率设定在相同数值上。
现在我们做一简单总结，无论是元件制造商还是系统集成商都会从这种集系统模拟和器件测量于一体的技术中受益，这种技术将在集成设计以及验证方案省去制造商们大量工作。将独立的器件测量与适当的系统模拟结合起来将有助于减少制造测试时间，简化研发工序，缩短设计周期，并最终强化系统的性能。
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