(5)智能结构 它属于结构检测与故障诊断，是融合智能技术、传感技术、信息技术、仿生技术、材料科学等的一门交叉学科，使监测的概念过渡到在线、动态、主动的实时监测与控制。

4、 测量尺寸继续向着两个极端发展

所谓两个极端就是指相对于现在测量尺寸的大尺寸和小尺寸。通常尺寸的测量已被广为注意，也开发了多种多样的测试方法。近年来，由于国民经济的快速发展和迫切需要，使得很多方面的生产和工程中测试的要求超过了我们所能测试的范围，如飞机外形的测量、大型机械关键部件测量、高层建筑电梯导轨的准直测量、油罐车的现场校准等都要求能进行大尺寸测量；微电子技术、生物技术的快速发展，探索物质微观世界的需求，测量精度的不断提高，又要求进行微米、纳米测试。

(1)大尺寸的测量方法 如工程大地测量方法是指将大地测量的某些原理和方法移植和改进到机械工程测量中，产生新的测量方法，还有其它一些测量大尺寸的方法，如激光跟踪干涉三维尺寸测量系统。

(2)纳米测试技术 从生产制造的趋势看，每十年要求容许误差降低1／3，因此要求测量具有越来越高的精度，并可溯源到国际标准(ISO)。当然，纳米测量也多种多样，有光干涉测量仪、量子干涉仪、电容测微仪、X射线干涉仪、频率跟踪式法珀标准量具、扫描电子显微镜(SEM)、扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)、分子测量机M3(molecular measuring machine)等。

5、 实现各种溯源的要求

(1)自标定、自校准 高精度的测量要求高精度的溯源，很多情况下难以找到满足精度要求的仪器，重要的原因是溯源制约着测量精度的发展，在一些情况下则可利用测量仪器的标定和虚拟测量方法，解决溯源问题。

(2)现场直接标定 越来越多的测量仪器要求现场直接标定，很多还是三维的空间标定，发展现场标定技术和仪器是完成这些标定的关键。

(3)纳米溯源 纳米测试的溯源也是个重要的问题。国外已有美国NIST、德国PTB、日本NRIM研究硅(220)晶体的晶面间距准确尺寸，元素晶格尺寸在恒温下具有很好的稳定性，可以用来建立纳米溯源基准。